膜厚测量仪所独具的特点以及测量时需要注意的参数设置

膜厚测量仪是一种测量膜厚的仪器，在许多工业领域得到广泛应用，为人们的测量工作提供了便利。

一、膜厚测量仪的特点

1、度量范围广。

膜层测厚仪具有广泛的测量范围，可从薄膜到厚膜均可测量厚度，不会因测量材料的变化而造成测量不便。

2、厚度分析方法。

膜厚测量仪器采用国际先进的反射率光谱技术，在精度和速度上有明显优势。

3、操作简便。

薄膜厚度测量仪采用人性化设计，使得薄膜厚度测量工作更简单，不需要复杂的测量操作，对有关测量人员进行简单的训练就可以对其进行操作。

4、外型新颖。

厚度测试仪在外观上也进行了全新设计，整体更别致新颖，与传统测厚仪的刚性外观相比，更能吸引眼球。

5、实现光学常数分析功能。

该方法突破了用薄膜测厚仪的光学数据分析方法，不仅提高了测量时间，而且进一步提高了测量精度，为人们提供了更为精确的薄膜厚度测量数据。

二、膜厚测量仪测试参数。

1、测波方法。

膜厚测试仪测量波长为450nm至780nm，可快速完成光学厚度测量任务。

2、测量精度。

本仪器精度在0.2nm误差范围内，是同类仪器中极高的精度，能够快速、高效地测量各种薄膜。

3、卤素灯。

用卤素灯作为薄膜测厚仪的光源，不但可以提供丰富的光源照明，而且减少了对眼睛的伤害，十分人性化。