光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点

　　随着光学在各个领域的广泛应用，使得它也能为薄膜测厚行业里带来贡献。其中就有大众所知的光学膜厚测量仪。它利用光学的特点，能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。光学膜厚测量仪所利用的工作原理，便是光的折射与反射。
　　这种仪器在测量时，摆放在被测件的上方，从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射，另一部分则会透过被测试的薄膜，在薄膜与衬底之间的界面形成反射，薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象，从而测量出薄膜的厚度。厚度的测量看似简单，实测上所利用的光反射原理，却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用，便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。
　　它能够避免前期的样品处理，甚至不需要样品来进行试样工作。传统的测厚仪，在测量物件时，需要进行样品的预处理，使样品与被测量物件一致，在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。利用光学膜厚测量仪，它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测，就是因为在测量时，会对物体造成一定程度的表面损坏，为了避免物件的损坏，才会需要应用样品。而光学的测厚仪，虽然直接应用于物件表面，但其它放射出来的光却是一样没有实质的事物，在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。
　　光学薄膜测厚仪的使用并不仅仅有着以上这些优点，它的最大优点还是在于它的精确度比普通的测厚仪高。既使是很微小的物件，也可以利用这样的一种仪器来测量它的厚度，而且还不用担心物件会因此而受到破坏。于是，光学测厚仪也就成了人们眼中的香勃勃。