探讨膜厚测试仪在测量时需要注意的事项！

膜厚测试仪分为手持式和桌面式、手持式和磁感应涂层厚度计、电涡流涂层厚度计、荧光x射线仪涂层厚度计。当手持磁感应原理时，涂层厚度通过非磁性涂层从测量头流入磁基体的磁通量来确定。相应的磁阻也可以确定，以表示涂层厚度。

台式荧光x射线膜厚度测试仪在x射线穿透金属元素样品时产生低能光子，俗称二次荧光。厚度值是通过计算二次荧光的能量来计算的。

测量膜厚测试仪时应注意的事项：

1.首先，在使用测量仪进行测试时，应选择类似于试件的金属磁性标准片进行测量。不要选择差异太大或差异太大的标准片进行测试，否则会导致很大的测量误差。

2.其次，用户需要将测量仪的侧面垂直于样品表面，不要倾斜，否则不利于测量工作的顺利进行，使测量任务放弃，变得毫无意义。

3.膜厚测试仪应放置在无磁干扰的地方进行测试，否则会影响仪器的测量性能，使测量仪器无法发挥应有的测量水平。

4.在测量仪器的过程中，用户需要保持恒定的压力，否则很容易影响测量读数，这对每个人都有不利影响，使每个人都无法记录正确的读数结果。

5.使用测量仪时，仪器测量头应直接接触测试件。如果两者之间有杂质，则需要在测量前进行清洁。

6.使用膜厚测试仪进行测试时，不要在内角和试件边缘附近测量，这会导致测量结果的误差，给我们带来不便。测量数据没有参考价值。