公司研制成功基于分光干涉原理的膜厚测量仪

【产品简介】

产品应用分光干涉原理测量透明薄膜的厚度，测量精度达到纳米量级的分辩率，测量迅速、操作简单、界面友好，是目前市场上性价比优良的膜厚测量仪设备。

【测量原理】

【系统构成】

【技术参数】

【应用领域】

生物医学（Biomedical），液晶显示(Displays)，硬涂层(Hard coats)，金属膜(Metal)，眼镜涂层(Ophthalmic)、聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等

【产品图片】